PVA TePla超声波扫描显微镜（SAM）的主要独特之处在于，它能够对不透明材料的内部结构进行无损检测，并且分辨率等同于光学显微镜。近年来，客户对无损成像及材料分析的需求大大增加。例如，质量控制检测和工艺优化对于半导体行业、微电子和MEMS行业至关重要，而超声波扫描显微镜技术也逐渐成为以上行业的首选技术。PVA TePla对于在实验室和生产环境中使用超声波扫描显微镜具有丰富的经验，可为客户提供创新、成熟的解决方案。